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InterOpto2022(インターオプト2022)

開催概要

会期 2022年6月15日(水)~2022年6月17日(金)
会場 東京ビッグサイト 東ホール (〒135-0063 東京都江東区有明3-11-1)
小間番号 東4ホール No.4i-28
来場登録

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内容

■近赤外光放射強度測定器(ELDIM社)
VCProbe-NIR
VCProbe-NIRシリーズは、3Dセンシングに使用される近赤外光の放射特性(配光・広がり具合、放射強度)をゴニオメータ無しでワンショットで測定します。測定の高速性から研究開発のみならず、生産ラインでの検査・品質管理にも有効な装置です。
ELDIM VCProbe-NIRシリーズ

■反射率分光膜厚計(ThetaMetrisis社)
FR-ES
膜厚測定範囲:5nm~約1mm
量産ラインへのシステム化にも対応。
非接触で測定ができ、測定者が誰であっても同じ測定値が得られ、簡単なPC操作で測定可能です。

※展示内容は予告なく変更になる場合がありますので予めご了承願います。

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問い合わせ 株式会社レスターコミュニケーションズ
計測営業部
〒141-0001 東京都品川区北品川5-9-11 大崎MTビル4F
TEL.03-3445-2091 FAX.03-5424-6281
E-mail info_mk@restarcc.com
公式サイト

InterOpto2022

 

製品ページ・納入事例

計測事業


計測機器事業

電子計測器のご紹介から測定技術、利用技術、システム技術・設計のノウハウ、お客様のニーズに適したアプリケーションをご提供します。さらに修理や計測校正サービスなどお客様の研究・開発から販売に至るあらゆる段階においてサポートします。

ELDIM


ELDIM

ディスプレイ視野角輝度色度測定 / 2次元輝度色度測定 / ダブルテレセントリックオプティクス / フリッカー応答速度測定 / 3Dセンシング近赤外光配光強度測定。

膜厚測定器


ThetaMetrisis(シータメトリシス)の高精度非接触膜厚計

膜厚計とは、塗膜やフィルムなどの定規で測定できないとても薄い膜の厚さを測る測定器です。膜厚は用途によっては厚過ぎても薄すぎてもいけないため、「適正な厚さに仕上がっているか?」を確認する必要があります。取扱いが簡単で、非接触での高精度かつスピーディな測定が可能です。

膜厚測定器


ThetaMetrisis (シータメトリシス)

非接触膜厚測定 / 分光反射率測定 / 分光透過率測定 / 光学定数(屈折率/消衰係数)測定。

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