ThetaMetrisis社製　FR-pRo 膜厚測定装置

■概要
　光学式非接触膜厚測定装置で、分光反射率または透過率を測定し膜厚や光学定数の計算を行います。
　測定から計算までのプロセスを瞬時に行い、透明膜または半透明膜といった光を通す材料に最適です。
■特長
　光学式なので非接触・非破壊での測定が可能
　一瞬の測定時間、高精度・高再現性の測定が可能
■測定対象
　レジスト、酸化膜、窒化膜、光学薄膜、透明電極膜、DLC、クリア塗料、他

ELDIM社製　VCProbe-NIR-STG 近赤外光放射パターン測定装置
■概要
　近赤外光の放射強度測定システムです。
　全方位360°、最大放射角±70°の放射パターンとその強度をワンショットで測定します。
■特長
　ゴニオメータで角度を設定する手間がなく測定時間を圧倒的に短縮可能。
　露光時間：30ms-30s、測定時間：2s以下
■測定対象
　近赤外レーザ、LED、VCSEL、Diffuser、DOE、LiDAR

※出展内容は変更になる可能性があります。