WCT-120PL シリコンウェーハ フォトルミネッセンスライフタイム測定<Wafer Lifetime Measurement with Photo luminescence Detector>

WCT-120PL シリコンウェーハ フォトルミネッセンスライフタイム測定<Wafer Lifetime Measurement with Photo luminescence Detector>
メーカー
Sinton
型番
WCT-120PL
分野・用途
半導体材料評価、太陽電池評価・特性測定装置

WCT-120のQSSPC法とフォトルミネッセンス法の両方を使用して、シリコンウェーハの校正されたキャリア再結合ライフタイムを測定します。

用途・特徴

WCT-120PLは、WCT-120にフォトルミネッセンス(PL)検出器の機能を追加したものでありPLライフタイムとドーピングを測定します。
準定常状態光コンダクタンス(QSSPC法)法と過渡光コンダクタンス減衰(PCD)法の両方が、校正されたPLライフタイム測定によって補完されます。WCT-120PLは、標準のWCT-120としても使用できます。
 - PL測定と同時にQSSPCまたはPCDを測定し製造プロセスのモニタリングと最適化
 - ウェーハ製造プロセスにおける段階的なモニタリングと最適化
 - 初期の材料品質のモニタリング
 - プロセス中の重金属のコンタミネーションの検出
 - 表面パッシベーションと放射ドーパント拡散の評価
 - 暗電流I-V測定によるプロセス起因のシャントの評価
 - QSSPLおよびQSSPCデータから基材ドーピングを反復計算

WCT-120_graph.png

WCT-120は、校正されたQSSPCライフタイム曲線と一緒に校正されたPLライフタイム曲線を示し、キャリア密度の広い範囲に渡ってライフタイムデータを生成します。

カタログダウンロード

環境計測機器
バイオ機器の用途から探す

EMC・アンテナ計測の
用途から探す

オプトエレクトロニクスの
用途から探す

AV計測器の用途から探す