Redux AFM は、Redux AFM を使用すると、ベンチトップでサブナノメートルの精度で 3D 地形データを簡単に収集できます。トポグラフィー、粗さ、膜厚、粒子サイズなどの定量データを数分で取得します。
従来の AFM とは異なり、Redux にはレーザー調整ステップなど面倒な作業がありません。AFM チップ上のMEMS センサーがすべてを自動化します。
Redux は、接着サンプルを含むほぼすべての固体サンプルと互換性があります。また十分なサンプルプラットフォーム (125 mm x 100 mm) と高さ (20 mm)を備えています。
当社の独自の AFM チップには、超耐久性のプローブが備わっています。またAFM チップは、扱いやすいPCB基板に実装されています。